1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Радиотехника и электроника
  4. T. 68, № 10, 2023

Радиотехника и электроника, 2023, T. 68, № 10, стр. 1035-1039

Влияние кристаллографической ориентации на фазовый переход конечной пластины из сплава с эффектом памяти формы TiNi

А. И. Павлов a, *, А. И. Карцев b, c, В. В. Коледов d, П. В. Лега b, d

a Московский государственный университет им. Н.Э. Баумана
105005 Москва, ул. 2-я Бауманская, 5, стр. 4, Российская Федерация

b Российский университет дружбы народов
117198 Москва, ул. Миклухо-Маклая, 6, Российская Федерация

c Вычислительный центр ДВО РАН
680000 Хабаровск, ул. Ким Ю Чена, 65, Российская Федерация

d Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
125009 Москва, ул. Моховая, 11, корп. 7, Российская Федерация

* E-mail: Alex.pav.2001@yandex.ru

Поступила в редакцию 17.05.2023
После доработки 17.05.2023
Принята к публикации 25.05.2023

Аннотация

Проведено моделирование пластины из сплава с памятью формы TiNi при различных кристаллографических ориентациях с помощью свободного пакета для классической молекулярной динамики LAMMPS. Выяснено, что кристаллографическая ориентация пластины оказывает существенное влияние на температуру фазового перехода. Построена зависимость поверхностной энергии от температуры при кристаллографических ориентациях (100), (110), (112), (122). Исследована устойчивость используемой модели, в результате чего подтверждена ее применимость в данных расчетах.

Список литературы

  1. Трусов С.Н., Чернявские А.Г. // ЖТФ. 1996. Т. 66. № 11. С. 153.

  2. Лохов В.А., Кучумов А.Г. // Рос. журн. биомеханики. 2006. № 3. С. 41.

  3. Aviram A., Ratner M.A. // Chem. Phys. Lett. 1974. V. 29. № 2. P. 277.

  4. Chernozatonskii L.A., Kosakovskaja Z.J., Fedorov E.A., Panov V.I. // Phys. Lett. A. 1995. V. 197. № 1. P. 40.

  5. Антропов А.П., Зайцев Н.К., Рябков Е.Д. и др. // Тонкие химические технологин. 2021. Т. 16. № 2. С. 105.

  6. Franklin A.D., Luisier M., Han S.J. et al. // Nano Lett. 2012. V. 12. № 2. P. 758.

  7. Hills G., Lau C., Wright A. et al. // Nature. 2019. V. 572. № 7771. P. 595.

  8. Zhang Y.L., Li J., To S. et al. // Nanotechnology. 2012. V. 23. P. 1063.

  9. Budhia H., Kreith F. // Int. J. Heat Mass Transf. 1973. V. 16. № 1. P. 195.

  10. Chang J., Sakai T., Saka H. // Philos. Magazine Lett. 2005. V. 85. № 5. P. 247.

  11. Ko W.S., Grabowski B., Neugebauer J. // Phys. Rev. B. 2015. V. 92. № 13. Article No. 134107.

  12. Kartsev A.I., Lega P.V., Orlov A.P. et al. // Nanomaterials. 2022. V. 12. P. 1107.

  13. Nosé S. // J. Chem. Phys. 1984. V. 81. № 1. P. 511.

  14. Hoover W.G. // Phys. Rev. A. 1985. V. 31. № 3. P. 1695.

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Радиотехника и электроника

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал