Известия РАН. Серия физическая, 2020, T. 84, № 11, стр. 1658-1661

Взаимосвязь диэлектрической релаксации и электронных состояний на границах зерен керамического сегнетоэлектрика-полупроводника

Г. С. Григорян 1, А. М. Солодуха 1*

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Воронежский государственный университет”
Воронеж, Россия

* E-mail: asn2@yandex.ru

Поступила в редакцию 18.06.2020
После доработки 10.07.2020
Принята к публикации 27.07.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Представлены структурные данные, а также результаты исследования в слабых электрических полях методом импедансной спектроскопии релаксационных процессов в области температур ниже и выше сегнетоэлектрического фазового перехода поликристаллического титаната бария-стронция с примесью церия и лантана. В рамках модели Хейванга выполнены интерпретация результатов и расчет значений электрофизических параметров межзеренных границ.

Керамические полупроводниковые материалы со структурой перовскита давно привлекают внимание исследователей в связи с широкими возможностями практического применения этих соединений. Твердые растворы на основе титаната бария позволяют создавать разнообразные электронные компоненты: пьзодатчики, вариконды, позисторы, элементы памяти. Изменение электрических параметров таких материалов можно осуществлять введением различных примесей замещения в исходную кристаллическую решетку перовскита ABO3. Ионы стронция в позициях А, образуя изовалентные твердые растворы, смещают точку Кюри TC вниз по шкале температур [1]. Ионы редкоземельных металлов церия и лантана формирует полупроводниковые свойства, снижают TC и обусловливают размытию максимумов диэлектрической проницаемости [25].

Так при замещении ионов Ba2+ (ионный радиус 0.135 нм) на ионы La3+ (ионный радиус 0.115 нм), если концентрация последних не более 0.5 ат. %, получается сегнетоэлектрик-полупроводник n‑типа:

(1)
${\text{L}}{{{\text{a}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{O}}}_{3}} + 2{\text{Ti}}{{{\text{O}}}_{2}} \to 2{\text{La}}_{{{\text{Ba}}}}^{\centerdot } + 2{\text{Ti}}_{{{\text{Ti}}}}^{ \times } + \frac{1}{2}{{{\text{O}}}_{2}} + 2{{{\text{e}}}^{/}}.$

Если концентрация превышает 0.5 ат. %, то зарядовое равновесие достигается образованием в решетке вакансий ионов бария либо титана:

(2)
${\text{L}}{{{\text{a}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{O}}}_{3}} + 3{\text{Ti}}{{{\text{O}}}_{2}} \to 2{\text{La}}_{{{\text{Ba}}}}^{\centerdot } + 3{\text{Ti}}_{{{\text{Ti}}}}^{ \times } + 9{\text{O}}_{{\text{O}}}^{ \times } + {\text{V}}_{{{\text{Ba}}}}^{{{\text{//}}}},$
(3)
${\text{2L}}{{{\text{a}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{O}}}_{3}} + 3{\text{Ti}}{{{\text{O}}}_{2}} \to 4{\text{La}}_{{{\text{Ba}}}}^{\centerdot } + 3{\text{Ti}}_{{{\text{Ti}}}}^{ \times } + 12{\text{O}}_{{\text{O}}}^{ \times } + {\text{V}}_{{{\text{Ti}}}}^{{{\text{////}}}}.$

Замещение трехвалентным ионом лантана четырехвалентного иона титана (ионный радиус 0.068 нм) возможно, но менее вероятно.

Большой интерес исследователей привлекает также примесь ионов церия, которые могут находиться как в трехвалентном, так и четырехвалентном состояниях. Ион Се3+ (ионный радиус 0.129 нм в А-позиции) может замещать ион бария по типу (1)–(3), а ион Се4+ (ионный радиус 0.087 нм в В‑позиции) замещает ион Тi4+, и этот вариант более вероятен.

Для позисторного эффекта должна быть реализована реакция (1). Тогда объяснение ПТКС (положительного температурного коэффициента сопротивления) можно провести на основе модели Хейванга [6], в которой предполагается существование двойного барьера Шоттки вдоль границ зерен сегнетоэлектрика-полупроводника. Такой барьер формируется при захвате электронов акцепторными уровнями и приводит к образованию обедненных носителями заряда областей в оболочке зерна. Согласно Хейвангу

(4)
${{\varphi }_{s}} = \frac{{e{{n}_{{\text{0}}}}{{b}^{2}}}}{{2{{\varepsilon }_{{0}}}{{\varepsilon }_{{gb}}}}},$
где φs – высота потенциального барьера на границе зерен, e – заряд электрона, ε0 – электрическая постоянная (СИ), εgb – относительная диэлектрическая проницаемость области внутренних границ зерен, n0 –концентрация электронов в объеме полупроводника (n0 = Nd, где Nd – концентрация доноров), b – ширина обедненной области (b = Ne/2Nd, где Ne – плотность заполненных электронных состояний на границах зерен).

В этом случае сопротивление образца может быть выражено формулой

(5)
$R = {{R}_{{0}}}\exp ({{e{{\varphi }_{s}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{e{{\varphi }_{s}}} {kT}}} \right. \kern-0em} {kT}}),$
где R0 – предэкспоненциальный множитель, Т – абсолютная температура, k – постоянная Больцмана.

Для Ne можно воспользоваться формулой, описывающей степень заполнения поверхностных уровней [7]:

(6)
${{N}_{e}} = \frac{{{{N}_{s}}}}{{1 + \frac{{{{N}_{c}}}}{{{{N}_{d}}}}\exp \left( {\frac{{e{{\varphi }_{s}} - {{E}_{s}}}}{{kT}}} \right)}},$
где Ns – поверхностная плотность электронных состояний, Nc – эффективная плотность состояний в зоне проводимости, Es – энергетический зазор между поверхностными уровнями и дном зоны проводимости.

Учтем, что в рассматриваемом интервале температур доноры полностью ионизированы, а основной рост сопротивления происходит в параэлектрической фазе сегнетоэлектрика-полупроводника, где для диэлектрической проницаемости ε выполняется закон Кюри–Вейсса. Тогда для температур больших температуры Кюри окончательное выражение потенциала на границе зерна можно представить следующим образом [7]:

(7)
${{\varphi }_{s}} = \frac{{eN_{s}^{2}(T - \theta )}}{{8{{C}_{C}}{{\varepsilon }_{{0}}}{{N}_{d}}{{{\left[ {1 + \frac{{{{N}_{c}}}}{{{{N}_{d}}}}\exp \left( {\frac{{e{{\varphi }_{s}} - {{E}_{s}}}}{{kT}}} \right)} \right]}}^{2}}}},$
где СС – постоянная Кюри, θ – температура Кюри.

В модели считается, что каждое проводящее зерно окружено высокоомным слоем, на котором происходит основное падение напряжения. Это позволяет принять значение диэлектрической проницаемости области границ зерен с учетом сильного электрического поля. Тогда при температурах ниже θ диэлектрическая проницаемость велика и слабо зависит от температуры, а в области действия закона Кюри–Вейсса (εgb ≈ ε) она резко уменьшается, что приводит к значительному увеличению φs и росту сопротивления.

Целью данной работы было изучение влияния комбинации примесей редкоземельных металлов на электрические свойства позисторной керамики, а также расчет плотности поверхностных электронных состояний границ зерен на основе диэлектрического отклика релаксационных процессов в образце.

Были исследованы образцы перовскитовой керамики, полученные по стандартной твердофазной технологии для позисторов. В исходный состав титаната бария-стронция Ba0.85Sr0.15TiO3 вводили примеси редкоземельных элементов лантана (0.3 ат. %) и церия (0.6 ат. %).

Морфологию, фазовый состав и структуру контролировали методами рентгеновского фазового анализа и растровой электронной микроскопии с помощью дифрактометра ARL X’TRA и микроскопа JSM-6380LV JEOL. Для электрических измерений использовали RLC-метр Wayne Kerr 4270. На образцы в виде дисков толщиной около 2 мм наносили электроды методом вжигания серебряной пасты. Измерения на постоянном токе показали, что зависимость электрического сопротивления образцов R от температуры типична для позисторов.

Данные рентгеноструктурного анализа позволяют утверждать, что синтезированная керамика соответствует тетрагональной фазе титаната бария. Добавки не оказывают заметного влияния на положение и величину пиков интенсивности рассеяния ввиду их незначительной концентрации.

Результаты электронной микроскопии представлены на рис. 1. Видно, что зерна имеют четкую огранку, что дает возможность провести оценку их среднего размера и использовать эту величину для теоретических расчетов.

Рис. 1.

Изображение зерен керамики, полученное при помощи электронного микроскопа.

Изучение диэлектрических свойств (рис. 2) показало большую величину реальной части диэлектрической проницаемости ε' в широком интервале температур за счет сильного размытия ее максимумов. Это, вероятно, связано с ролью примеси церия, т.к. согласно [5], примесь лантана до 8 ат. % заметного размытия ε'(Т) не демонстрирует.

Рис. 2.

Зависимости действительной части диэлектрической проницаемости (13) и мнимой части электрического модуля (46) от температуры на различных частотах измерительного сигнала: 1 – 10; 2 – 100; 3 – 1000; 4 – 1; 5 – 10; 6 – 100 кГц.

Из рис. 2 видно, что смещение максимумов зависимости мнимой части электрического модуля М " от температуры с ростом частоты тестового сигнала происходит в сторону низких температур. Это указывает на присутствие в RC-цепочке (определяющей время релаксации) сопротивления границ зерен, которое резко возрастает в параэлектрической фазе. Особенностью релаксационного процесса в данном случае является диэлектрический отклик не объема зерен, а тонких приграничных слоев.

Будем считать, что для максимумов М" выполняются соотношения

(8)
$\tau = RC;\,\,\,\,\tau = {1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}\pi {{f}_{{max}}},$
где τ – время релаксации, fmax – частота, при которой наблюдается максимум. Тогда, получив зависимость R(T) на постоянном токе и полагая, что R определяется совокупностью всех участков границ зерен, можно определить величину электрической емкости С.

Расчеты показывают, что в данном температурном интервале С изменяется незначительно и равна 0.6 нФ. Поскольку электрический модуль связан с участками наименьшей емкости, то можно предположить, что эта емкость межзеренной фазы. Следовательно, время релаксации для данного процесса можно выразить как произведение сопротивления обедненных носителями заряда областей R на емкость межзеренной прослойки С. Учтем соотношение, рассмотренное в [8]

(9)
$\varepsilon _{m}^{'} = {{\varepsilon }_{{gb}}}({d \mathord{\left/ {\vphantom {d {2b}}} \right. \kern-0em} {2b}}),$
где $\varepsilon _{m}^{'}$ – измеренное значение действительной части диэлектрической проницаемости, d – средний размер зерен. Тогда, на основе данных структурных и электрических исследований, а также формулы (4), получим следующую зависимость сопротивления R образца от температуры T на постоянном токе:

(10)
$R(T) = {{R}_{{0}}}\exp ({{{{e}^{2}}{{N}_{e}}d} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{e}^{2}}{{N}_{e}}d} {8{{\varepsilon }_{{0}}}{{\varepsilon }_{{gb}}}kT}}} \right. \kern-0em} {8{{\varepsilon }_{{0}}}{{\varepsilon }_{{gb}}}kT}}).$

Чтобы воспользоваться формулой (7), учтем, что для размытого фазового перехода классический закон Кюри–Вейсса не выполняется, поэтому следует воспользоваться следующей формулой [5]:

(11)
${1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 {\varepsilon {\kern 1pt} '}}} \right. \kern-0em} {\varepsilon {\kern 1pt} '}} - {1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 {\varepsilon _{{max}}^{'}}}} \right. \kern-0em} {\varepsilon _{{max}}^{'}}} = {{{{{(T - {{T}_{{max}}})}}^{{\gamma }}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{(T - {{T}_{{max}}})}}^{{\gamma }}}} {{{C}_{1}}}}} \right. \kern-0em} {{{C}_{1}}}},$
где $\varepsilon _{{max}}^{'}$ наибольшее значение ε' при температуре Tmax; γ и С1 – константы.

Параметр γ определяется по наклону графика зависимости (11) в двойном логарифмическом масштабе, затем вычисляется величина С1.

Произведем замену параметров θ и СС в (7) с учетом выражения (11) и определим Ne по наклону графика в координатах lnR – 1/εgbТ (см. прямолинейный участок на рис. 3). Далее рассчитаем зависимости R(T) из уравнения (5) для Т > Tmax с учетом формул (6), (7). Эти данные сопоставим с экспериментальной зависимостью R(T).

Рис. 3.

Зависимость логарифма сопротивления образца на постоянном токе от величины 1/εgbТ. Значения εgb приводятся для частоты 1 МГц.

Результаты расчета, выполненного с помощью процедуры “root” математического пакета Mathcad показали хорошее согласие с данными эксперимента (см. рис. 4). Значения параметров представлены в табл. 1. Nc принималось равной концентрации ионов титана в решетке перовскита (1.56 ⋅ 1028 м–3).

Рис. 4.

Зависимость сопротивления образца от температуры на постоянном токе: 1 – данные эксперимента, 2 – расчет.

Таким образом, исследование процессов диэлектрической релаксации в керамике показало, что комбинированная примесь лантана и церия является эффективной добавкой для титаната бария-стронция как с точки зрения реализации эффекта ПТКС, так и для расширения температурного интервала с высоким значением величины диэлектрической проницаемости. Кроме того, результаты исследования диэлектрического отклика дают возможность провести количественную оценку (в рамках модели Хейванга) плотности электронных состояний на границах зерен и положение поверхностных энергетических уровней в пределах запрещенной зоны перовскита.

Таблица 1.

   Данные эксперимента и расчетов

γ R0, Ом С1, K1.14 Tmax, К d, мкм Es, эВ Ne, м–2 Ns, м–2 Nd, м–3
1.14 35 6.17 · 105 343 4.0 1.06 2.94 ⋅ 1017 1.11 · 1018 1.40 · 1024

Список литературы

  1. Moulson A.J. Electroceramics: materials, properties, applications. Wiley, 2003. 557 p.

  2. Billah M., Ahmed A., Rahman Md.M. // AIP Conf. Proc. 2016. V. 1754. № 7. Art. № 030006.

  3. Tsur Y. Dunbar T.D., Randall C.A. // J. Electroceram. 2001. V. 7. P. 25.

  4. Hwang J.H., Han Y.H. // J. Amer. Ceram. Soc. 2001. V. 84. № 8. P. 1750.

  5. Morrison F.D., Sinclair D.C., West A.R. // J. Appl. Phys. 1999. V. 86. № 11. P. 6355.

  6. Heywang W. // J. Mater. Sci. 1971. V. 6. P. 1214.

  7. Шефтель И.Т. Терморезисторы. М.: Наука, 1973. 416 с.

  8. Zhang F., Zhang Z. // J. Mater. Sci. 1999. V. 34. P. 5051.

Дополнительные материалы отсутствуют.