Кристаллография, 2022, T. 67, № 6, стр. 963-970

Измерение и расчет показателей преломления кристаллов семейства лангасита Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14 и связь оптической активности с особенностями распределения электронной плотности

А. Ф. Константинова 1, Т. Г. Головина 1*, А. П. Дудка 1, И. О. Горячук 2, В. И. Соколов 2

1 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
Москва, Россия

2 Институт фотонных технологий ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
Москва, Россия

* E-mail: tatgolovina@mail.ru

Поступила в редакцию 14.06.2022
После доработки 23.06.2022
Принята к публикации 23.06.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Исследованы оптические свойства монокристаллов Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14 и Ba3TaFe3Si2O14 – перспективных мультиферроиков из семейства лангасита (пр. гр. P321, Z = 1). Кристаллы выращены методом бестигельной зонной плавки. Проведено сравнение измеренных и рассчитанных показателей преломления данных кристаллов. Выполнен расчет параметров оптической активности по структурным данным. Проведен сравнительный анализ атомных структур по данным прецизионного рентгеноструктурного анализа. Определена корреляция структурных особенностей и оптических свойств кристаллов.

ВВЕДЕНИЕ

Семейство лангасита получило свое название по аббревиатуре кристалла La3Ga5SiO14, который, в свою очередь, относится к структурному типу Ca3Ga2Ge4O14 (пр. гр. P321, Z = 1) [1, 2]. С учетом атомных позиций формулу лангаситов с катионами A, B, C, D можно записать в виде [A(3e)]3[B(1a)][C(3f)]3[D(2d)]2[O1(2d)]2[O2(6g)]6[O3(6g)]6. Лангаситы привлекли огромное внимание исследователей благодаря своим уникальным пьезоэлектрическим и нелинейным оптическим свойствам [3]. Возможность изоморфного замещения катионов в различных структурных позициях позволила синтезировать множество соединений этого семейства с разнообразными физическими свойствами [4].

В последние годы большой интерес привлекли соединения семейства лангасита, содержащие магнитные катионы [57]. В частности, было обнаружено, что в лангаситах, содержащих ионы железа в позициях 3f, наблюдается антиферромагнитное упорядочение с температурой Нееля TN ∼ 30 K [8, 9]. Кроме того, при определенных условиях эти кристаллы проявляют электрическую поляризацию [10]. Одновременное наличие электрического и магнитного параметров порядка делает такие кристаллы перспективными мультиферроиками [7]. Магнитоэлектрические эффекты наблюдаются только при температурах ниже температуры магнитного упорядочения ТN. Повышение TN является одной из задач, важных для практических применений.

В цикле работ по исследованию структуры кристаллов семейства лангасита Ca3Ga2Ge4O14 [11] и Nd3Ga5SiO14 [12] выявлено, что структурной основой для возникновения хиральности кристаллов и проявления ими оптической активности является особое спиральное распределение (разупорядочение) электронной плотности. Широкое распределение локальных окружений атомов в соединении Nd3Ga5SiO14 подтверждено результатами исследования методом ядерного магнитного резонанса [13]. Далее гипотеза электронных спиралей использовалась для объяснения структурной причины проявления мультиферроидных свойств в случае трех кристаллов с магнитными ионами (Sr3NbFe3Si2O14 (SNFS) [14], Ba3NbFe3Si2O14 (BNFS) [15] и Ba3TaFe3Si2O14 (BTFS) [16]) (рис. 1). Установлено, что магнитные моменты ионов железа в позициях 3f формируют спираль [7, 9]. Теоретическое описание спиральной магнитной структуры и условия существования мультиферроидных свойств в лангаситах представлены в [9]. В настоящее время железосодержащие кристаллы семейства лангасита активно исследуются [1719].

Рис. 1.

Хиральная структура железосодержащего лангасита Ba3TaFe3Si2O14 при 95 K. Окружность указывает на расположение спирали электронной плотности.

В [20, 21] исследована связь оптических свойств кристаллов семейства лангасита со структурой, в том числе структурная основа хиральности и оптической активности этих кристаллов. При этом кристаллы, содержащие ионы Fe, в данных работах не исследовались.

Цель настоящей работы – исследование оптических свойств железосодержащих кристаллов семейства лангасита SNFS, BNFS, BTFS и нахождение связи этих свойств со структурой кристалла.

МЕТОДИКА ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14

Выращивание монокристаллов лангаситов, содержащих сравнительно крупные ионы железа, является сложной задачей. Нет свидетельств, что это может быть сделано методом Чохральского, каким обычно выращивают кристаллы классических лангаситов без железа [22].

Исследуемые монокристаллы выращены А.М. Балбашовым из Национального исследовательского университета “МЭИ” методом бестигельной зонной плавки на аппаратуре УРН-2-ЗП [23]. Рост осуществлялся на монокристаллическую затравку, вырезанную из монокристалла, выращенного на поликристаллическую затравку. Для обеспечения плавного расплавления поликристаллической заготовки она предварительно переплавлялась зонной плавкой на скорости 35 мм/ч в воздушной среде. Рост осуществлялся при давлении кислорода над расплавом 10 атм (SNFS), 15 атм (BNFS, BTFS). Отжиг кристалла проводился в процессе выращивания в течение 2 ч при температуре 1200°С (SNFS) и 1000°С (BNFS, BTFS), далее происходило плавное снижение температуры отжига в течение 5 ч. Скорость выращивания составляла 2–4 мм/ч для SNFS, 5–6 мм/ч для BNFS, 7–10 мм/ч для BTFS при вращении кристалла со скоростью 20 об./мин для SNFS, 40 об./мин для BNFS и BTFS, при вращении заготовки со скоростью 1 об./мин. Типичный размер полученных монокристаллов: диаметр – 5–6 мм для SNFS, 6–8 мм для BNFS и BTFS, длина – 40–50 мм для SNFS, 40–60 мм для BNFS и BTFS.

ИЗМЕРЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПРЕЛОМЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14

Измерение показателей преломления кристаллов проведено рефрактометрическим методом, который основан на явлении полного внутреннего отражения (ПВО) света [24]. Луч падает на границу раздела измерительной призмы и образца (показатели преломления N и n соответственно) со стороны призмы. Если угол падения θ превышает критический угол θcr, то наблюдается ПВО, т.е. прошедшая световая волна отсутствует. При этом показатель преломления образца определяется с учетом известного значения N согласно закону преломления Снеллиуса–Декарта:

(1)
$n = N\sin ({{{{\theta }}}_{{{\text{cr}}}}}).$
Величину θcr определяли из графика зависимости интенсивности отраженного излучения Irefl от угла падения θ: переход через критический угол ПВО сопровождается скачкообразным уменьшением Irefl.

Измерения Irefl(θ) проводили на приборе призменного контакта Metricon 2010/M (Metricon Corporation) [25]. Основным элементом прибора является измерительная призма из материала с высоким показателем преломления (ZrO2, N = = 2.147 на длине волны λ = 632.8 нм). Исследуемый образец приводится в оптический контакт с рабочей гранью измерительной призмы с помощью пневматического толкателя. Граница раздела призма–образец зондируется лазерным лучом со стороны призмы, величина Irefl измеряется кремниевым фотодетектором.

Прибор призменного контакта оснащен He–Ne-лазером 05-LHP-488 (Melles Griot) мощностью 0.9 мВт с диаметром пучка (по уровню 1/e2) d = 0.65 мм (±5%) и угловой расходимостью δ = = 1.24 мрад. Падающий на рабочую грань призмы лазерный луч линейно поляризован либо перпендикулярно плоскости падения (TE), либо в плоскости падения (TM), что позволяет измерять показатели преломления анизотропных образцов. Если исследуемая кристаллическая пластинка вырезана перпендикулярно своей оптической оси, то при TE- и TM-измерениях будут найдены соответственно no и ne (главные показатели преломления кристалла).

Сначала были проведены измерения показателей преломления no, ne для образца лангатата La3Ta0.5Ga5.5O14 (LTG), вырезанного перпендикулярно оптической оси, и выполнено сравнение полученных результатов с данными [2628]. После этого проведены измерения показателей преломления для трех образцов SNFS, BNFS, BTFS. На рис. 2 представлены типичные графики зависимости Irefl от угла падения θ, полученные при изучении LTG (прозрачный кристалл) и BTFS (поглощающий кристалл). На вставках на данных рисунках показана область углов вблизи критического угла ПВО в увеличенном масштабе, а значения θcr, найденные по графику, отмечены вертикальными чертами.

Рис. 2.

Графики зависимости интенсивности отраженного излучения Irefl от угла падения θ, полученные на приборе призменного контакта для образцов La3Ta0.5Ga5.5O14 (а) и Ba3TaFe3Si2O14 (б) при двух ортогональных поляризациях зондирующего луча.

Отметим, что измерение показателя преломления образцов SNFS, BNFS, BTFS имеет ряд особенностей. Данные образцы непрозрачны для видимого излучения, что приводит к сглаживанию графика зависимости интенсивности отраженного излучения Irefl от угла падения вблизи критического угла и затрудняет определение значения данного угла (например, рис. 2б). Кроме того, все образцы имеют высокий показатель преломления. Измерения критического угла ПВО могут осуществляться для образцов-пластинок, только если их показатель преломления меньше, чем у измерительной призмы (т.е. n < N). Так как показатель преломления измерительной призмы N = 2.147 близок к показателям преломления кристаллов, выполненные измерения сделаны вблизи границы рабочего диапазона прибора (рис. 2).

Измерения проводили при двух ортогональных поляризациях падающего луча и для образцов различной ориентации. Результаты, усредненные по всем выполненным измерениям, приведены в табл. 1. В качестве погрешности взято стандартное отклонение: для θcr – 0.005°–0.09°, для n – 0.00008–0.0015. Для образца LTG, вырезанного перпендикулярно оптической оси, полученные показатели преломления для TE- и TM-поляризаций соответствуют значениям no, ne. Полученные значения для LTG хорошо согласуются (с точностью до третьего знака) с известными экспериментальными данными no = 1.9389, ne = = 1.9646 [26, 27]. Остальные кристаллы вырезаны под косым углом к оптической оси, вероятно, поэтому существенного различия в результатах TE- и TM-измерений для них не наблюдается (табл. 1). В качестве результата принимаются средние значения показателей преломления по всем измерениям.

Таблица 1.  

Экспериментальные и рассчитанные показатели преломления кристаллов La3Ta0.5Ga5.5O14, Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14

Образец θcr(TE), град θcr(TM), град n, TE n, TM nср $n_{{{\text{расч}}}}^{{\text{и}}}$ $n_{{{\text{расч}}}}^{{\text{o}}}$
LTG 64.639 66.417 1.9401 (no) 1.9677 (ne) 1.9539 1.8217 1.9394
SNFS 62.508 62.56 1.9046 1.9055 1.9051 1.7286 1.9251
BNFS 64.74 64.66 1.9418 1.9404 1.9411 1.7426 1.9458
BTFS 63.164 63.185 1.9158 1.9162 1.9160 1.6450 1.9179

РАСЧЕТ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПРЕЛОМЛЕНИЯ И ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОЙ АКТИВНОСТИ КРИСТАЛЛОВ Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14

Расчет показателей преломления методом молекулярных рефракций. В [20] проведен расчет показателей преломления для некоторых кристаллов семейства лангасита. Но при этом не исследовались кристаллы данного семейства, содержащие Fe.

Расчет показателей преломления n кристаллов семейства лангасита проводили с использованием метода молекулярных рефракций по формуле [29]:

(2)
$R = \frac{{({{n}^{2}} - 1)}}{{({{n}^{2}} + 2)}}\frac{M}{D},$
где R – молекулярная рефракция, n – средний показатель преломления кристалла, M – молярная масса, D – плотность кристалла.

Величины рефракции R можно определить разными способами. Во-первых, можно посчитать величину R как сумму рефракций ионов:

(3)
${{R}_{{{\text{BNFS}}}}} = 3{{R}_{{{\text{B}}{{{\text{a}}}^{{2 + }}}}}} + {{R}_{{{\text{N}}{{{\text{b}}}^{{5 + }}}}}} + 3{{R}_{{{\text{F}}{{{\text{e}}}^{{3 + }}}}}} + 2{{R}_{{{\text{S}}{{{\text{i}}}^{{4 + }}}}}} + 14{{R}_{{{{{\text{O}}}^{{2 - }}}}}}.$
Для расчетов использовали значения кристаллических ионных рефракций, приведенные в [29]. Полученные величины $n_{{{\text{расч}}}}^{{\text{и}}}$ приведены в табл. 1, где также даны экспериментальные показатели преломления. Видно, что полученные значения показателей преломления сильно занижены, особенно это касается кристаллов, содержащих Fe. Во-вторых, можно рассчитать рефракцию исследуемых кристаллов, разбивая формулу на простые “фрагменты”, например:
(4)
${{R}_{{{\text{BNFS}}}}} = 3{{R}_{{{\text{BaO}}}}} + \frac{1}{2}{{R}_{{{\text{N}}{{{\text{b}}}_{2}}{{{\text{O}}}_{5}}}}} + \frac{3}{2}{{R}_{{{\text{F}}{{{\text{e}}}_{2}}{{{\text{O}}}_{3}}}}} + 2{{R}_{{{\text{Si}}{{{\text{O}}}_{2}}}}}.$
Рефракции “фрагментов”, представляющих собой простые оксиды, взяты из [29]. Результаты расчетов этим способом ($n_{{{\text{расч}}}}^{{\text{o}}}$) гораздо лучше сходятся с экспериментом, чем при расчете через ионные рефракции (табл. 1).

Расчет показателей преломления и вращения плоскости поляризации света по структурным данным. Взаимосвязь между структурой и оптической активностью может быть выявлена расчетным путем. Для этого проведен расчет показателей преломления no, ne и вращения плоскости поляризации света ρ исследуемых кристаллов по программе WinOptAct [30]. Чтобы применить данную программу, нужно знать атомную структуру исследуемого кристалла (сорта атомов, их координаты и анизотропные параметры атомных смещений для соответствующей абсолютной конфигурации). Используя эти данные и варьируя поляризуемость ионов, можно приблизительно рассчитать величины no, ne и ρ. Так как решение, получаемое при расчете по WinOptAct, сильно зависит от поляризуемостей ионов, которые неизвестны, при расчете необходимо на что-то ориентироваться. В данном случае из известных данных есть только средний показатель преломления. В качестве основы для расчета параметров кристаллов SNFS, BNFS, BTFS взяты поляризуемости ионов, полученные в [21] при оценке показателей преломления и оптической активности для кристаллов Sr3NbGa3Si2O14, Sr3TaGa3Si2O14, Ba3TaGa3Si2O14. Поляризуемость ионов Fe подбиралась, а поляризуемости остальных ионов менялись по возможности немного. Результат проверяли по среднему показателю преломления. Полученные величины приведены в табл. 2, где ρ|| – вращение плоскости поляризации света при его распространении в направлении оптической оси, а ρ – соответствующая величина для направления, перпендикулярного к оптической оси (это было бы вращением плоскости поляризации света при отсутствии двупреломления) [31]. Также в табл. 2 приведены результаты расчета для кристалла LTG, для которого получено хорошее соответствие (с точностью до третьего знака) с известными величинами no, ne и ρ|| [27, 32].

Таблица 2.  

Расчет показателей преломления и оптической активности кристаллов La3Ta0.5Ga5.5O14, Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14 по программе WinOptAct при длине волны λ = 632.8 нм

Состав Поляризуемости ионов Эксп. nср Расчет no, ne,
WinOptAct
Расчет ρ, град/мм
LTG α(La, 3e) = 2.25
α(Ga1, 2d) = 1.35
α(Ga2, 3f) = 0.84
α(Ga3, 1a) = 0.88
α(O1, 2d) = 1.19
α(O2, 6g) = 1.6
α(O3, 6g) = 1.18
α(Ta, 1a) = 0.3
nо = 1.9401
ne = 1.9677
no = 1.9385
ne = 1.9643
ρ|| = – 14.6
ρ = 26.3
(эксп. ρ|| = –14.6 [32])
SNFS α(Sr, 3e) = 3.1
α(Fe, 3f) = 2.58
α(O1, 2d) = 1.1
α(O2, 6g) = 0.85
α(O3, 6g) = 0.75
α(Si, 2d) = 0.07
α(Nb, 1a) = 0.2
nср = 1.9051 no = 1.8886
ne = 1.9226
ρ|| = –40.6
ρ = 26.1
BNFS α(Ba, 3e) = 3.6
α(Fe, 3f) = 2.91
α(O1, 2d) = 1.1
α(O2, 6g) = 0.85
α(O3, 6g) = 0.75
α(Si, 2d) = 0.07
α(Nb, 1a) = 0.19
nср = 1.9411 no = 1.9080
ne = 1.9740
ρ|| = –37.1
ρ =33.2
BTFS α(Ba, 3e) = 3.4
α(Fe, 3f) = 2.9
α(O1, 2d) = 1.1
α(O2, 6g) = 0.85
α(O3, 6g) = 0.75
α(Si, 2d) = 0.07
α(Та, 1a) = 0.23
nср = 1.9160 no = 1.8811
ne = 1.9490
ρ|| = –24.3
ρ = 23.7

Можно предположить, что кристаллы SNFS, BNFS, BTFS будут иметь большую оптическую активность, так как кристаллы такого же типа без Fe (Ca3TaGa3Si2O14, Ca3NbGa3Si2O14, Sr3TaGa3Si2O14, Sr3NbGa3Si2O14) имеют большую оптическую активность [33, 34]. Это предположение подтверждается при расчете. Например, для Sr3NbGa3Si2O14 ρ = –41 град/мм [33], и для SNFS получается примерно столько же (табл. 2). Кроме того, видно, что величины ρ|| и ρ имеют разные знаки: вдоль оптической оси имеет место правое вращение, перпендикулярно оптической оси – левое. Это наблюдается и в других кристаллах семейства лангасита, как показано в [21].

СТРУКТУРА КРИСТАЛЛОВ Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14, Ba3TaFe3Si2O14

Для дифракционного исследования образцы кристаллов были обкатаны в эллипсоиды, форма которых близка к сферической с диаметром 0.3–0.4 мм. Дифракционные эксперименты проведены при температурах 90 и 295 K на дифрактометре Xcalibur S с двумерным CCD-детектором (Rigaku Oxford Diffraction). Расчет интегральных интенсивностей из дифракционных картин проведен по программе CrysAlisPro вместо CrysAlis [35], для обработки данных и уточнения модели структуры использована программа ASTRA [36], для построения разностных синтезов Фурье – программа Jana2006 [37].

Хиральность, проявление оптической активности и мультиферроидных свойств кристаллами SNFS, BNFS и BTFS являются следствием общей структурной особенности, присущей всем лангаситам, а именно наличия спиралей электронной плотности, элементы которых относятся к атомам разных химических сортов и не связаны винтовой осью симметрии. Электронная плотность в кристаллах, “размазанная” около катионной позиции 3f и анионной позиции O3(6g), только имитирует тройную винтовую ось симметрии и формирует трехзаходную спираль вдоль оси c кристалла (рис. 3). Виток спирали завершается в пределах трех элементарных ячеек, ось спирали проходит через атом Nb(1a) или Ta(1a) в начале координат.

Рис. 3.

Спирали электронной плотности железосодержащих лангаситов при 295 K.

Степень распределения электронной плотности (“размазывание”) вдоль линии спирали (различие спиралей) зависит от химического состава кристаллов. Атомная геометрия железосодержащих лангаситов определяется каркасом из жестких Si(2d)-тетраэдров и менее жестких Fe(3f)-тетраэдров. При “постоянном” каркасе “размазывание” электронной плотности определяется плотностью упаковки атомов, которая возрастает в ряду SNFS–BNFS–BTFS при переходе к более крупным катионам. Больший объем пустот в SNFS допускает больший размах смещения атомов кислорода O3. Рисунок 3 показывает, что направление преимущественных смещений O3 ориентировано по линии спирали и уменьшается в ряду SNFS–BNFS–BTFS. Следствием изотермических изоморфных замещений центрального атома спирали (Nb(1a) → Ta(1a), переход BNFS → BTFS) является подвижка атома Fe(3f) в тетраэдре на 18 s.u. вдоль оси a ячейки [15], характеристики ближайших кислородных атомов спирали меняются в меньшей степени, изменение геометрии, в целом, умеренное (рис. 3). При переходе от SNFS к BNFS или BTFS геометрия структуры изменяется весьма сильно. Таблица 3 показывает близость размеров элементарных ячеек и объемов полиэдров в кристаллах BNFS и BTFS, а также их значительное отличие от случая SNFS.

Таблица 3.  

Структурные параметры исследованных образцов при 293 K

Образец a, Å c, Å V, Å3 Объем 3e-полиэдра, Å3 Объем 1a-октаэдра, Å3
SNFS 8.26069(7) 5.13148(5) 303.254(5) 31.08(1) 10.058(6)
BNFS 8.52421(8) 5.23372(5) 329.343(8) 35.40(2) 10.311(8)
BTFS 8.53532(3) 5.23329(2) 330.18(6) 35.50(3) 10.31(1)

Присутствие обменного магнитного взаимодействия ионов железа усиливает “размазывание” электронной плотности по сравнению со случаем немагнитных кристаллов [14]. При охлаждении атомы структуры перестраиваются главным образом за счет уменьшения большой полости, центрированной катионом в позиции 3e (Sr или Ba), и изменения тетраэдра вокруг атома Fe(3f) [14, 15]. В магнитных лангаситах при понижении температуры дополнительно происходит увеличенное сжатие элементарной ячейки вдоль оси с, что приводит к большему сжатию спирали.

Проявление кристаллами оптической активности также зависит от характеристик спиралей, поэтому можно ожидать высокой оптической активности железосодержащих лангаситов, что в целом подтверждается (табл. 2). Корреляция оптической активности и атомной структуры кристаллов наблюдается в ряду SNFS–BNFS–BTFS. Именно в такой последовательности возрастают объем элементарной ячейки и плотность упаковки атомов (табл. 3), уменьшается свобода смещений атомов кислорода O3(6g) (рис. 3), с одной стороны, и уменьшается величина вращения плоскости поляризации света, проходящего параллельно оптической оси (табл. 2), с другой. Аналогичная “обратнаяˮ зависимость имеет место в ряду лангаситов Ca3TaGa3Si2O14–Sr3TaGa3Si2O14–Ba3TaGa3Si2O14 [20]. На основании этих двух наблюдений можно предположить, что величина оптической активности в направлении оптической оси возрастает по мере увеличения “размазывания” электронной плотности атомов кислорода, передающих взаимодействие между катионами в позиции 3f, которые вместе формируют спирали электронной плотности в кристаллах семейства лангасита.

Переход BNFS → BTFS (замена Nb → Ta) имеет некоторые особенности из-за определенного “насыщенияˮ упаковки атомов и влияния разнонаправленных факторов. Объем элементарной ячейки при таком переходе немного возрастает (табл. 3), несмотря на сохранение размера замещающего иона при “удвоенииˮ его массы (r(Nb$_{{{\text{VI}}}}^{{ + 5}}$, Ta$_{{{\text{VI}}}}^{{ + 5}}$) = 0.64 Å). Свойства, задаваемые спиралями электронной плотности, в этом случае еще соответствуют описанной выше тенденции, но другие свойства, определяемые атомами во всем массиве кристалла, уже не подчиняются этой зависимости. В частности, значения показателей преломления при переходе от BNFS к BTFS демонстрируют некоторый “регрессˮ (табл. 1).

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Методом бестигельной зонной плавки выращены монокристаллы Sr3NbFe3Si2O14, Ba3NbFe3Si2O14 и Ba3TaFe3Si2O14 – перспективные мультиферроики из семейства лангасита. Проведено сравнение измеренных и рассчитанных оптических свойств кристаллов. Показатели преломления данных кристаллов измерены рефрактометрическим методом, а также рассчитаны методом молекулярной рефракции: они возрастают в ряду SNFS–BTFS–BNFS. Выполнен расчет параметров оптической активности по структурным данным: определено, что величина вращения плоскости поляризации света в направлении оптической оси уменьшается в ряду SNFS–BNFS–BTFS.

Проведен сравнительный анализ атомных структур по данным прецизионного рентгеноструктурного анализа, на основании чего определена корреляция структурных особенностей и оптических свойств кристаллов. Предложено связать величину оптической активности в направлении оптической оси со степенью “размазывания” электронной плотности атомов кислорода, передающих взаимодействие между катионами в позиции 3f вдоль линии спирали электронной плотности в кристаллах семейства лангасита (ряд SNFS–BNFS–BTFS).

При этом показатели преломления, определяемые не только атомами спиралей, но и атомами во всем массиве кристалла, чувствительны к большему числу факторов. В частности, при замене на более тяжелые ионы при переходе BNFS → BTFS наблюдается не совсем понятное увеличение объема элементарной ячейки и объема Ba(3e)-полиэдра. Вероятно, из-за такого несколько необычного изменения плотности упаковки атомов ряд кристаллов по возрастанию показателей преломления несколько перестраивается: SNFS–BTFS–BNFS.

Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках выполнения работ по Государственному заданию ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН.

Список литературы

  1. Милль Б.В., Буташин А.В., Эллерн А.М., Майер А.А. // Изв. АН СССР. Неорган. материалы. 1981. Т. 17. № 9. С. 1648.

  2. Белоконева Е.Л., Белов Н.В. // Докл. АН СССР. 1981. Т. 260. № 6. С. 1363.

  3. Каминский А.А., Милль Б.В., Саркисов С.Э. // Физика и спектроскопия лазерных кристаллов. М.: Наука, 1986. С. 197.

  4. Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. // Proc. IEEE/EIA Int. Frequency Control Symp., Kansas City, Missouru, USA, 2000. P. 133.

  5. Ivanov V.Yu., Mukhin A.A., Prokorov A.S., Mill B.V. // Solid State Phenom. 2009. V. 152–153. P. 299. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.152-153.299

  6. Zhou H.D., Lumata L.L., Kuhns P.L. et al. // Chem. Mater. 2009. V. 21. P. 156. https://doi.org/10.1021/cm8018082

  7. Marty K., Bordet P., Simonet V. et al. // Phys. Rev. B. 2010. V. 81. P. 054416. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.054416

  8. Lyubutin I.S., Naumov P.G., Mill’ B.V. et al. // Phys. Rev. B. 2011. V. 84. P. 214425. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.84.214425

  9. Pikin S.A., Lyubutin I.S. // Phys. Rev. B. 2012. V. 86. P. 064414. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.86.064414

  10. Narita H., Tokunaga Y., Kikkawa A. // Phys. Rev. B. 2016. V. 94. P. 094433. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.94.094433

  11. Дудка А.П., Милль Б.В. // Кристаллография. 2013. Т. 58. № 4. С. 593. https://doi.org/10.7868/S0023476113040085

  12. Дудка А.П., Милль Б.В. // Кристаллография. 2014. Т. 59. № 5. С. 759. https://doi.org/10.7868/S0023476114050038

  13. Zorko A., Bert F., Bordet P. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2009. V. 145. P. 012006. https://doi.org/10.1088/1742-6596/145/1/012006

  14. Дудка А.П., Балбашов А.М. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 1. С. 43. https://doi.org/10.7868/S002347611801006X

  15. Dudka A.P., Balbashov A.M., Lyubutin I.S. // Cryst. Growth Des. 2016. V. 16. P. 4943. https://doi.org/10.1021/acs.cgd.6b00505

  16. Дудка А.П., Балбашов А.М., Любутин И.С. // Кристаллография. 2016. Т. 61. № 1. С. 31. https://doi.org/10.7868/S0023476116010057

  17. Toulouse C., Cazayous M., de Brion S. et al. // Phys. Rev. B. 2015. V. 92. P. 104302. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.92.104302

  18. Ramakrishnan M., Joly Y., Windsor Y.W. et al. // Phys. Rev. B. 2017. V. 95. P. 205145. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.205145

  19. Rathore S.S., Nathawat R., Vitta S. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2021. V. 23. P. 554. https://doi.org/10.1039/d0cp04965d

  20. Константинова А.Ф., Головина Т.Г., Набатов Б.В. и др. // Кристаллография. 2015. Т. 60. № 6. С. 950. https://doi.org/10.7868/S0023476115060144

  21. Константинова А.Ф., Головина Т.Г., Дудка А.П. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 2. С. 218. https://doi.org/10.7868/S0023476118020091

  22. Uda S., Wang S.Q., Konishi N. et al. // J. Cryst. Growth. 2002. V. 237–239. P. 707. https://doi.org/10.1016/S0022-0248(01)02007-3

  23. Balbashov A.M., Egorov S.K. // J. Cryst. Growth. 1981. V. 52. P. 498. https://doi.org/10.1016/0022-0248(81)90328-6

  24. Ландсберг Г.С. Оптика: учебное пособие для вузов. 6-е изд. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2010. 848 с.

  25. https://www.metricon.com/

  26. Батурина О.А., Гречушников Б.Н., Каминский А.А. и др. // Кристаллография. 1987. Т. 32. Вып. 2. С. 406.

  27. Калдыбаев К.А., Константинова А.Ф., Перекалина З.Б. Гиротропия одноосных поглощающих кристаллов. М.: Изд-во “Институт социально-экономических и производственно-экологических проблем инвестирования”, 2000. 294 с.

  28. Stade J., Bohaty L., Hengst M., Heimann R.B. // Cryst. Res. Technol. 2002. V. 37. № 10. P. 1113. https://doi.org/10.1002/1521-4079(200210)37:10<1113::AID-CRAT1113>3.0.CO;2-E

  29. Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия. М.: Высшая школа, 1976. 304 с.

  30. Glazer A.M. // J. Appl. Cryst. 2002. V. 35. P. 652. https://doi.org/10.1107/S0021889802013997

  31. Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М.: Изд-во АН СССР, 1958. 207 с.

  32. Гераськин В.В., Козлова Н.С., Забелина Е.В., Исаев И.М. // Материалы электронной техники. 2009. № 3. С. 33.

  33. Heimann R.B., Hengst M., Rossberg M., Bohm J. // Phys. Status Solidi. A. 2003. V. 198. № 2. P. 415. https://doi.org/10.1002/pssa.200306627

  34. Wei A., Wang B., Qi H., Yuan D. // Cryst. Res. Technol. 2006. V. 41. № 4. P. 371. https://doi.org/10.1002/crat.200510589

  35. Agilent Technologies. 2011. Agilent Technologies UK Ltd., Oxford, UK, Xcalibur CCD system, CrysAlisPro Software system, Version 1.171.35.21.

  36. Dudka A. // J. Appl. Cryst. 2007. V. 40. P. 602. https://doi.org/10.1107/S0021889807010618

  37. Petricek V., Dusek M., Palatinus L. Jana2006. The crystallographic computing system. 2006. Institute of Physics, Praha, Czech Republic.

Дополнительные материалы отсутствуют.