Журнал неорганической химии, 2022, T. 67, № 9, стр. 1211-1218

Структура и свойства ванадий- и ниобийзамещенных вольфраматов висмута

О. С. Каймиева a*, И. Э. Сабирова a, Е. С. Буянова a, С. А. Петрова ab

a Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Институт естественных наук и математики
620000 Екатеринбург, пр-т Ленина, 51, Россия

b Институт металлургии УрО РАН
620016 Екатеринбург, 101, ул. Амундсена, Россия

* E-mail: kaimi-olga@mail.ru

Поступила в редакцию 02.03.2022
После доработки 18.03.2022
Принята к публикации 30.03.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Несмотря на ряд очевидных недостатков, таких как низкая химическая и механическая устойчивость, твердые электролиты на основе оксида висмута по-прежнему привлекают большое внимание исследователей благодаря высоким значениям электропроводности в интервале температур 600–800°С. Среди фазовых диаграмм с участием оксида висмута и оксидов четырех-, пяти- и шестивалентных металлов малоизученной остается фазовая диаграмма системы Bi2O3–WO3 в области, обогащенной висмутом. Недавно открытое соединение с соотношением Bi : W = 5 : 1 стимулировало поиск путей повышения стабильности вольфрамата висмута и изучение влияния гетеровалентного замещения на структуру и физико-химические свойства сложных оксидов. В настоящей работе твердофазным методом синтеза в интервале температур 600–970°С с применением закалки на конечной стадии синтеза получены соединения с общей формулой Bi22.5W4.5 –x(Nb/V)xO47.25 – δ (х = = 0.0–0.3). Методом рентгенофазового анализа установлено, что образцы обладают тетрагональной структурой. При спекании образуется плотная керамика с однородным составом, коэффициент термического расширения которой составляет ~(12–13) × 10–6°С–1. Максимальные значения электропроводности получены для образцов с х = 0.1 (σ750(Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25 – δ) = 0.03 Ом–1 см–1; σ750(Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ) = 0.013 Ом–1 см–1).

Ключевые слова: синтез, электронная микроскопия, электропроводность

ВВЕДЕНИЕ

На сегодняшний день известен широкий ряд соединений на основе оксида висмута, которые представляют интерес благодаря высоким значениям кислородно-ионной проводимости (для оксида висмута 1–1.5 См см–1 при 730–830°С [13]) и потенциальному использованию в качестве мембран электрохимических устройств [15] и газовых сенсоров [68]. Однако ряд существенных недостатков, таких как высокая реакционная способность, ограниченная температурная область существования высокопроводящей фазы и чувствительность к восстановительным условиям, приводят к необходимости поиска новых путей для их исправления. Модифицирование структуры оксида висмута за счет образования твердых растворов или новых соединений при введении различных химических элементов в его структуру призвано нивелировать отрицательные эффекты. Широко известны ниобаты, молибдаты, ванадаты и вольфраматы висмута различного состава [2]. Особый интерес вызывают вольфраматы висмута, так как фазовая диаграмма оксид висмута–оксид вольфрама до сих пор полностью не изучена. В работах [9, 10] получены три новых соединения: Bi22W5O48, Bi22W4.5O47.25 и Bi23W4O46.5, структура которых напрямую зависит от условий получения (температуры отжига и скорости охлаждения). Электропроводность представленных сложных оксидов ниже электропроводности δ-Bi2O3 за счет снижения числа кислородных вакансий с 25 до 11% [11], однако все еще сопоставима по своим значениям с величиной для иттрий-стабилизированного диоксида циркония в среднетемпературном интервале [10]. Таким образом, данные вольфраматы висмута имеют хорошие перспективы в качестве электролитных материалов с кислородно-ионной проводимостью и представляют практический интерес для дальнейшего изучения. Известным способом увеличения числа кислородных вакансий, непосредственно определяющих значение электропроводности, является гетеровалентное замещение, приводящее к желаемым результатам [12]. В [11] показано, что число кислородных вакансий уменьшается в ряду δ-Bi2O3 > Bi22Nb5O45.5 > > Bi22W2.5Nb2.5O46.75 > Bi22W5O48. Авторы связали это с тем, что координационное число вольфрама в кубической структуре Bi22W5O48 постоянно и равно 6, как показали результаты расчетов методом квазиупругого рассеяния нейтронов, в то время как у атомов висмута наблюдается различное координационное окружение между 5 и 9 со средним значением 7.4 [11]. Есть данные о положительном влиянии ниобия на стабилизацию кубической структуры перовскита [1315] и увеличение химической стабильности сложных оксидов различного состава [16, 17]. Атомы ванадия изовалентны ниобию, а ванадат висмута Bi2V4O11 со структурой слоистого перовскита, как известно, является высокопроводящей фазой [18, 19]. Разница ионных радиусов вольфрама, ниобия и ванадия (r(W6+) = 0.60 Å, r(Nb5+) = 0.64 Å; r(V5+) = = 0.68 Å [20]) не противоречит правилу Гольдшмидта. Следовательно, замещение вольфраматов висмута ниобием и ванадием с получением твердых растворов состава Bi22W4.5 –x(Nb/V)xO47.25 – δ (х = 0.0–0.3), определение их структуры и физико-химических свойств актуально и перспективно для создания новых электролитных материалов.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Образцы Bi22W4.5 –x(Nb/V)xO47.25 – δ (х = 0.0–0.3) получали твердофазным методом синтеза из простых оксидов Bi2O3 (ос. ч.), WO3 (ос. ч.), Nb2O5 (ос. ч.), V2O5 (ос. ч.), взятых в стехиометрическом соотношении. Полученные смеси после каждой стадии синтеза перетирали в агатовой ступке с использованием этилового спирта в качестве гомогенизатора. Оксид висмута является летучим при высоких температурах. Для предотвращения его потери за счет образования промежуточных фаз отжиг порошкообразных образцов проводили постадийно в температурном интервале 600–750°С через каждые 50°С. Далее порошки прессовали в брикеты при давлении 4 МПа и отжигали при 850 и 970°С. При температуре 970°С осуществляли закалку путем резкого охлаждения горячего образца в холодной деионизированной воде для стабилизации конкретного структурного типа, как это ранее было показано авторами [10]. Рентгенографическую аттестацию проводили с использованием дифрактометров ДРОН-3 (Россия) в интервале углов 5°–72° (скорость съемки 1 град/мин) и D8 Advance (Bruker, Германия) в интервале углов 5°–100° со скоростью 1.5 град/мин с регистрацией позиционно-чувствительным детектором VÅNTEC-1. Фазовый состав определяли с помощью программы Match-DEMO и картотеки PDF2. Кристаллохимические параметры рассчитывали с использованием программы Celref [21]. Для определения наличия фазовых переходов и температур, при которых они происходят, а также для нахождения коэффициента термического расширения сложных оксидов проведен дилатометрический анализ спеченных при 900°С брикетов с использованием дилатометра DIL 402 C (Netzsch, Германия). Плотность спекания определяли с помощью гидростатического взвешивания (метод Архимеда) керамических брикетов, покрытых тонким слоем влагостойкого лака. Пористость образцов определяли как отношение между значениями экспериментальной и рентгеновской (теоретической) плотности. Морфологию поверхности и локальный химический состав керамики определяли с помощью сканирующей электронной микроскопии (сканирующий электронный микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss NTS, Германия)) с рентгеновским энергодисперсионным анализом (энергодисперсионный анализатор Inca X-Max 150 (Oxford Instruments, Великобритания)). Для определения электропроводности соединений порошки были спрессованы и спечены при 900°С в течение 8 ч в виде таблеток диаметром 10 мм и толщиной 3–4 мм. Для улучшения контактов с платиновыми электродами торцевые поверхности таблетированных образцов шлифовали и покрывали слоем мелкодисперсной платины. Измерение сопротивления образцов проводили на двухконтактной ячейке в режиме охлаждения от 850 до 300°С на переменном токе с помощью импедансметра Z-3000 (Элинс, Россия). Результаты измерения получали в виде годографов импеданса, которые в дальнейшем обрабатывали с использованием программы ZView software (Version 2.6b, Scribner Associates, Inc.).

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Как показано авторами [10], с помощью закалки от температуры 1000°С можно стабилизировать кубическую флюоритоподобную структуру вольфрамата висмута. Однако нами обнаружено, что отжиг образцов при 1000°С приводит к их плавлению, поэтому конечная температура синтеза была понижена до 970°С. По результатам рентгенофазового анализа образцов, закаленных при этой температуре, установлено, что все составы с общей формулой Bi22W4.5 –x(Nb/V)xO47.25 – δ (х = 0.0–0.3) имеют тетрагональную структуру (пр. гр. I41). Полученные дифрактограммы вольфраматов висмута представлены на рис. 1. Поскольку степень замещения ионами ниобия и ванадия мала, изменение параметров элементарной ячейки с ростом концентрации допанта незначительно, а сама зависимость носит нелинейный характер (табл. 1), что, вероятнее всего, связано с наличием в структуре полиэдров как WO6, так и W4O18 [10].

Рис. 1.

Примеры дифрактограмм: 1 – Bi22W4.4V0.1O47.25 – δ; 2 – Bi22W4.4Nb0.1O47.25 – δ.

Таблица 1.

Параметры элементарной ячейки вольфраматов висмута после закалки при 970°С

Состав a ± 0.003, Å с ± 0.005, Å V ± 0.5, Å3
Bi22.5W4.5O47.25 12.446 11.142 1725.8
Bi22.5W4.45V0.05O47.25–δ 12.442 11.130 1722.9
Bi22.5W4.4V0.1O47.25–δ 12.440 11.120 1720.7
Bi22.5W4.35V0.15O47.25–δ 12.437 11.117 1719.5
Bi22.5W4.3V0.2O47.25–δ 12.435 11.116 1718.9
Bi22.5W4.25V0.25O47.25–δ 12.436 11.113 1718.6
Bi22.5W4.2V0.3O47.25–δ 12.437 11.112 1718.6
Bi22.5W4.45Nb0.05O47.25–δ 12.438 11.134 1722.5
Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25–δ 12.434 11.131 1720.9
Bi22.5W4.35Nb0.15O47.25–δ 12.432 11.129 1720.0
Bi22.5W4.3Nb0.2O47.25–δ 12.430 11.126 1719.0
Bi22.5W4.25Nb0.25O47.25–δ 12.429 11.124 1718.4
Bi22.5W4.2Nb0.3O47.25–δ 12.422 11.127 1717.0

По результатам определения плотности спекания керамики, значения пористости брикетов вольфраматов висмута не превышают 10%, что согласуется с результатами, полученными методом сканирующей электронной микроскопии (рис. 2). Локальный химический состав исследуемых образцов, определенный с помощью рентгеновского микроанализа с дисперсией по энергиям (рис. 3), соответствует заявленному номинальному составу, заложенному при синтезе, в пределах погрешности определения (2.5%). Соотношение атомов Bi : W = 22.5 : 4.0 для Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ. Присутствие ванадия зафиксировать не удалось в связи с его небольшим содержанием в образце Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ.

Рис. 2.

Серия микроизображений скола брикета Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ при различных увеличениях.

Рис. 3.

Рентгеновский энергодисперсионный спектр образца Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ.

По данным дилатометрического анализа, фазовых переходов у исследованных составов не зафиксировано (рис. 4). Рассчитанный коэффициент термического расширения для образца состава Bi22.5W4.3Nb0.2O47.25 – δ равен 12.3 × 10–6°C–1.

Рис. 4.

Температурные зависимости линейных размеров и коэффициента термического расширения для образца состава Bi22.5W4.3Nb0.2O47.25 – δ: 1 – нагрев; 2 – охлаждение.

Типичные годографы импеданса исследованных вольфраматов висмута в области высоких и низких температур представлены на рис. 5 и 6. Форма годографов импеданса образцов различного состава практически не отличается друг от друга и имеет вид искаженной полуокружности при высоких температурах (рис. 5). По мере снижения температуры появляется второй полукруг большего диаметра (рис. 6). Для замещенных ванадием и ниобием образцов наблюдается значительный сдвиг годографов в сторону меньших сопротивлений, что, вероятнее всего, обусловлено ростом числа кислородных вакансий при допировании.

Рис. 5.

Годографы импеданса замещенных вольфраматов висмута при 800°C: 1 – Bi22.5W4.5O47.25; 2 – Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25 – δ; 3 – Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ.

Рис. 6.

Годографы импеданса замещенных вольфраматов висмута при 400°C: 1 – Bi22.5W4.5O47.25; 2 – Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25 – δ; 3 – Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ.

Вывод о природе электрохимических процессов, описываемых представленными годографами, сделан с помощью модельных расчетов импедансных спектров по построенным эквивалентным схемам, составленным из последовательно соединенного сопротивления и двух элементов Войта (сопротивление R и элемент постоянной фазы CPE, сопряженные параллельно друг с другом) при высоких и средних температурах (от 450 до 850°C) и двух последовательно соединенных элементов Войта для низких температурных интервалов (от 300 до 425°C). Исходя из полученных величин емкостной составляющей CPE при высоких температурах, можно соотнести CPE1 (10–6 Ф) и CPE2 (10–7 Ф) с процессами, протекающими на границе электрод–электролит и внутри электродов [22], и заключить, что за общее сопротивление образца отвечает сопротивление R1. В низкотемпературной области годографы вольфраматов висмута описываются с помощью эквивалентных схем, состоящих из последовательно сопряженных элементов Войта (рис. 6). При этом емкостные характеристики CPE1-T и CPE2-T соответственно равны 10–10 и 10–5 Ф, что характеризует объемное сопротивление образца R1 (CPE1) и протекание электрохимических процессов на границе электрод–электролит R2 (CPE2).

По результатам обработки импедансных спектров с помощью уравнения Аррениуса построены температурные зависимости общей электропроводности вольфраматов висмута (рис. 7, 8).

Рис. 7.

Температурные зависимости общей электропроводности Bi22.5W4.5 –хNbхO47.25 – δ в аррениусовских координатах: 1 – Bi22.5W4.5O47.25; 2 – Bi22.5W4.45Nb0.05O47.25 – δ; 3 – Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25 – δ; 4 – Bi22.5W4.35Nb0.15O47.25 – δ; 5 – Bi22.5W4.3Nb0.2O47.25 – δ; 6 – Bi22.5W4.25Nb0.25O47.25 – δ.

Рис. 8.

Температурные зависимости общей электропроводности Bi22.5W4.5 –хVхO47.25 – δ в аррениусовских координатах: 1 – Bi22.5W4.5O47.25; 2 – Bi22.5W4.45V0.05O47.25 – δ; 3 – Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ; 4 – Bi22.5W4.35V0.15O47.25 – δ; 5 – Bi22.5W4.3V0.2O47.25 – δ; 6 – Bi22.5W4.25V0.25O47.25 – δ.

Из представленных графиков температурных зависимостей общей электропроводности видно, что в случае введения в структуру вольфрамата висмута ионов ниобия или ванадия электропроводность немного растет (максимальные значения достигнуты при x = 0.1 (σ750(Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25 – δ) = = 0.03 Ом–1 см–1; σ750(Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ) = = 0.013 Ом–1 см–1)). Дальнейшее повышение содержания допантов не приводит к увеличению электропроводности. На самих температурных зависимостях общей электропроводности в подавляющем большинстве случаев можно выделить три области с разными энергиями активации (Ea) (табл. 2). Первая высокотемпературная область относится к электропроводности кубической фазы вольфраматов висмута [10]. Снижение температуры приводит к переходу в тетрагональную модификацию, где, по данным [10], наблюдается нелинейный характер изменения объема элементарной ячейки в области средних и низких температур, чем, скорее всего, и обусловлено изменение угла наклона температурной зависимости электропроводности при 450°С. При измерении электропроводности в режиме нагрева и охлаждения на графике зависимости общей проводимости от температуры наблюдается небольшой гистерезис (рис. 9), что указывает на неполное достижение температурного равновесия в процессе измерения.

Таблица 2.

Электрофизические характеристики вольфраматов висмута Bi22.5W4.5 –х(V/Nb)хO47.25 – δ

Состав Энергия активации Ea, эВ Электропроводность σ, Ом–1 см–1
температурный интервал, °С
850–800 775–475 450–300 750 400
Bi22.5W4.5O47.25 0.17 0.84 9.97 × 10–3 6.51 × 10–5
Bi22.5W4.45V0.05O47.25–δ 0.40 0.92 0.86 1.31 × 10–2 7.07 × 10–5
Bi22.5W4.4V0.1O47.25–δ 0.65 1.00 0.77 3.10 × 10–2 1.09 × 10–4
Bi22.5W4.35V0.15O47.25–δ 0.49 0.89 0.77 2.97 × 10–2 9.47 × 10–5
Bi22.5W4.3V0.2O47.25–δ 0.43 0.92 2.81 × 10–2 1.03 × 10–4
Bi22.5W4.25V0.25O47.25–δ 0.68 1.16 0.74 2.44 × 10–2 5.18 × 10–5
Bi22.5W4.45Nb0.05O47.25–δ 0.64 0.89 0.76 1.91 × 10–2 9.69 × 10–5
Bi22.5W4.4Nb0.1O47.25–δ 0.79 1.00 0.78 3 × 10–2 1.07 × 10–4
Bi22.5W4.35Nb0.15O47.25–δ 0.90 0.69 4.7 × 10–3 2.95 × 10–5
Bi22.5W4.3Nb0.2O47.25–δ 0.79 0.95 0.69 1.53 × 10–2 7.35 × 10–5
Bi22.5W4.2Nb0.25O47.25–δ 0.64 1.00 0.76 2.72 × 10–2 1 × 10–4
Рис. 9.

Температурный гистерезис общей электропроводности вольфрамата висмута Bi22.5W4.4V0.1O47.25 – δ: 1 – нагрев; 2 – охлаждение.

На примере образца состава Bi22.5W4.3V0.2O47.25 – δ изучено влияние многократного термоциклирования на значения электропроводности. Согласно представленным результатам (рис. 10), после первого измерения в режиме охлаждения наблюдается снижение электропроводности примерно на полпорядка значений вследствие упорядочения кислородных вакансий в структуре вольфрамата висмута с последующей стабилизацией данной величины при повторных измерениях.

Рис. 10.

Температурные зависимости общей электропроводности вольфрамата висмута Bi22.5W4.3V0.2O47.25 – δ в ходе первого, второго, третьего и четвертого измерения в режиме охлаждения.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Твердофазным методом синтеза получены ниобий- и ванадийзамещенные вольфраматы висмута с общей формулой Bi22W4.5 –x(Nb/V)xO47.25 – δ (х = 0.0–0.3), имеющие тетрагональную структуру (пр. гр. I41). Согласно данным сканирующей электронной микроскопии и определения плотности методом гидростатического взвешивания, при спекании формируется керамика с однородным составом и плотностью >90%. Коэффициент термического расширения, по данным дилатометрического анализа, находится в интервале (12–13) × 10–6°С–1. На температурных зависимостях общей электропроводности сложных оксидов можно выделить три линейных участка с разными энергиями активации, отвечающими проводимости кубической структуры в высокотемпературной области и тетрагональной модификации в области средних и низких температур. По результатам многократного термоциклирования показано снижение значений общей электропроводности при втором измерении и их последующая стабилизация, что связано с упорядочением кислородных вакансий в структуре вольфрамата висмута.

Список литературы

  1. Harwig H.A., Gerards A.G. // J. Solid State Chem. 1978. V. 26. P. 265.

  2. Takahashi T., Iwahara H. // Mater. Res. Bull. 1978. V. 13. P. 1447. https://doi.org/10.1016/0022-4596(78)90161-5

  3. Wachsman E.D., Lee K.T. // Science. 2011. V. 334. P. 935. https://doi.org/10.1126/science.1204090

  4. Мацкевич Н.И., Семерикова А.Н., Гельфонд Н.В. и др. // Журн. неорган. химии. 2020. Т. 65. № 5. С. 669. https://doi.org/10.31857/S0044457X20050165

  5. Дергачева П.Е., Кульбакин И.В., Ашмарин А.А. и др. // Журн. неорган. химии. 2021. Т. 66. № 8. С. 1126. https://doi.org/10.31857/S0044457X21080043

  6. Adamian Z.N., Abovian H.V., Aroutiounian V.M. // Sens. Actuators, B. 1996. V. 35–36. P. 241. https://doi.org/10.1016/S0925-4005(96)90035-0

  7. Cabot A., Marsal A., Arbiol J. et al. // Sens. Actuators, B. 2004. V. 99. P. 74. https://doi.org/10.1016/j.snb.2003.10.032

  8. Tomchenko A.A. // Sens. Actuators, B. 2000. V. 68. P. 48. https://doi.org/10.1016/S0925-4005(00)00460-3

  9. Wind J., Auckett J.E., Withers R.L. et al. // Acta Crystallogr., Sect. B: Struct. Sci. 2015. V. 71. P. 679. https://doi.org/10.1107/S2052520615018351

  10. Wind J., Kayser P., Zhang Zh. et al. // Solid State Ionics. 2017. V. 308. P. 173. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2017.07.015

  11. Wind J., Mole R.A., Ling Ch.D. // J. Phys. Chem. 2019. V. 123. P. 15877. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.9b01346

  12. Buyanova E.S., Emelyanova Yu.V., Morozova M.V. et al. // Chim. Techno Acta. 2015. V. 2. № 4. P. 306. https://doi.org/10.15826/chimtech.2015.2.4.029

  13. Zhou Q., He Y., Bu F. et al. // J. Mater. Sci. Mater. Electron. 2020. V. 31. P. 11819. https://doi.org/10.1007/s10854-020-03734-8

  14. He Sh., Le Sh., Guan L. et al. // J. Power Sources. 2015. V. 295. P. 33. https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2015.06.134

  15. Yavo N., Smith A.D., Yeheskel O. et al. // Adv. Funct. Mater. 2016. V. 26. P. 1138. https://doi.org/10.1002/adfm.201503942

  16. Le Sh., Li Ch., Song X. et al. // Int. J. Hydrogen Energy. 2020. V. 45. P. 10862. https://doi.org/10.1016/j.ijhydene.2020.01.160

  17. Radojkovic A., Savic S.M., Pršic S. et al. // J. Alloys Compd. 2014. V. 583. P. 278. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2013.08.189

  18. Stroud H.J., Mohn Ch.E., Hernandez J.-A. et al. // Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A. 2021. V. 379. P. 20200430. https://doi.org/10.1098/rsta.2020.0430

  19. Dziegielewska A., Malys M., Wrobel W. et al. // Solid State Ionics. 2021. V. 360. P. 115543. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2020.115543

  20. Shannon R.D. // Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Crystallogr. 1976. V. 32. P. 751. https://doi.org/10.1107/S0567739476001551

  21. Laugier J., Bochu B. LMGP-Suite of Programs for the interpretation of X-ray Experiments/ENSP. Grenoble: Lab. Materiaux Genie Phys, 2003.

  22. West A.R. Basic Solid State Chemistry. Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 1999. 480 p.

Дополнительные материалы отсутствуют.