Кристаллография

Содержание

Том 66, Номер 4, 2021
Колонка главного редактора
507-508
ОБЗОРЫ
Ультрабыстрая электронная микроскопия – инструмент XXI века
С. А. Асеев, Б. Н. Миронов, Е. А. Рябов, А. С. Авилов, Г. В. Гиричев, А. А. Ищенко
509-527
In situ отражательная электронная микроскопия для анализа процессов на поверхности кремния: сублимации, электромиграции, адсорбции примесных атомов
Д. И. Рогило, С. В. Ситников, Е. Е. Родякина, А. С. Петров, С. А. Пономарев, Д. В. Щеглов, Л. И. Федина, А. В. Латышев
528-539
Исследования широкозонных полупроводников методом наведенного тока
Е. Б. Якимов
540-552
ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ
Метод усиления контраста слабых рефлексов и коррекции фона на картинах электронной дифракции от поликристаллических материалов
В. И. Бондаренко, Е. И. Суворова
553-559
РОСТ КРИСТАЛЛОВ
Особенности атомной структуры нанокристаллов силицидов железа в матрице кремния
А. К. Гутаковский, А. В. Латышев
560-567
НАНОМАТЕРИАЛЫ, КЕРАМИКА
Электронно-дифракционное исследование структуры фаз в системах MF2RF3 (CaF2–ErF3, SrF2–LaF3)
В. И. Николайчик, А. С. Авилов, Б. П. Соболев
568-571
Микроструктура и реологическое поведение стабилизированного гидрозоля наночастиц золота
Р. А. Камышинский, Н. М. Кузнецов, П. В. Лебедев-Степанов, А. С. Степко, С. Н. Чвалун, А. Л. Васильев
572-577
Методологические подходы к исследованию многослойных тонкопленочных систем и границ раздела в композиционных материалах
Е. А. Лукина, А. И. Гуляев, П. Л. Журавлева, Д. В. Зайцев
578-585
ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
Протяженные дефекты в имплантированных кислородом слоях кремния и их люминесценция
В. И. Вдовин, Л. И. Федина, А. К. Гутаковский, А. Е. Калядин, Е. И. Шек, К. Ф. Штельмах, Н. А. Соболев
586-597
Трансформации структуры ядра дислокаций в Si и их связь с фотолюминесценцией
Л. И. Федина, А. К. Гутаковский, В. И. Вдовин, Т. С. Шамирзаев
598-605
РЕАЛЬНАЯ СТРУКТУРА КРИСТАЛЛОВ
Аномально высокие значения модуля вектора Бюргерса винтовых дислокаций в нитевидных нанокристаллах нитрида галлия
Д. А. Кириленко, К. П. Котляр
606-609
Электронная микроскопия в изучении лунного реголита
А. В. Мохов, П. М. Карташов, Т. А. Горностаева, А. П. Рыбчук, О. А. Богатиков
610-618
СТРУКТУРА НЕОРГАНИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ
Применение спектроскопии энергетических потерь электронов для анализа микроструктуры реакторных материалов
К. Е. Приходько, М. М. Дементьева
619-625
Исследование морфологии и кристаллической структуры природных кремнеземов методами электронной микроскопии и электронографии
В. Я. Шкловер, П. Р. Казанский, Н. А. Артемов, И. Г. Марясев
626-635
МЕТАМАТЕРИАЛЫ И ФОТОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ
Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для создания жидкокристаллических метаповерхностей
В. В. Артемов, Д. Н. Хмеленин, А. В. Мамонова, М. В. Горкунов, А. А. Ежов
636-644
ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
Микроструктура эпитаксиальных слоев GaN, полученных на нанопрофилированных Si(001)-подложках
А. В. Мясоедов, Н. А. Берт, В. Н. Бессолов
645-649
Электронно-микроскопические исследования поверхностных образований в эпитаксиальном слое Ge3Sb2Te6, выращенном на кремниевой подложке
Ю. С. Зайцева, Н. И. Боргардт, А. С. Приходько, Е. Залло, Р. Каларко
650-657
Методика определения периодичности рельефа изломов разрушенных материалов
М. А. Артамонов
658-662
Особенности микроструктуры гидрогеля поли-n-винилпирролидон–La(NO3)3 ⋅ 6H2O
А. С. Орехов, Н. А. Архарова, В. В. Клечковская
663-667
ПРИБОРЫ, АППАРАТУРА
Применение метода EBSD для исследования механизмов разрушения сталей корпусов реакторов под действием эксплуатационных факторов
Д. А. Мальцев, Е. А. Кулешова, С. В. Федотова, М. А. Салтыков, Н. В. Степанов
668-672

Информация о выпуске

  • Всего статей
    21
  • Страницы
    507-672

Кристаллография