Кристаллография
Содержание
Том 66, Номер 4, 2021
- Колонка главного редактора
- 507-508
ОБЗОРЫ
- Ультрабыстрая электронная микроскопия – инструмент XXI века
С. А. Асеев, Б. Н. Миронов, Е. А. Рябов, А. С. Авилов, Г. В. Гиричев, А. А. Ищенко - 509-527
- In situ отражательная электронная микроскопия для анализа процессов на поверхности кремния: сублимации, электромиграции, адсорбции примесных атомов
Д. И. Рогило, С. В. Ситников, Е. Е. Родякина, А. С. Петров, С. А. Пономарев, Д. В. Щеглов, Л. И. Федина, А. В. Латышев - 528-539
- Исследования широкозонных полупроводников методом наведенного тока
Е. Б. Якимов - 540-552
ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ
- Метод усиления контраста слабых рефлексов и коррекции фона на картинах электронной дифракции от поликристаллических материалов
В. И. Бондаренко, Е. И. Суворова - 553-559
РОСТ КРИСТАЛЛОВ
- Особенности атомной структуры нанокристаллов силицидов железа в матрице кремния
А. К. Гутаковский, А. В. Латышев - 560-567
НАНОМАТЕРИАЛЫ, КЕРАМИКА
- Электронно-дифракционное исследование структуры фаз в системах MF2–RF3 (CaF2–ErF3, SrF2–LaF3)
В. И. Николайчик, А. С. Авилов, Б. П. Соболев - 568-571
- Микроструктура и реологическое поведение стабилизированного гидрозоля наночастиц золота
Р. А. Камышинский, Н. М. Кузнецов, П. В. Лебедев-Степанов, А. С. Степко, С. Н. Чвалун, А. Л. Васильев - 572-577
- Методологические подходы к исследованию многослойных тонкопленочных систем и границ раздела в композиционных материалах
Е. А. Лукина, А. И. Гуляев, П. Л. Журавлева, Д. В. Зайцев - 578-585
ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
- Протяженные дефекты в имплантированных кислородом слоях кремния и их люминесценция
В. И. Вдовин, Л. И. Федина, А. К. Гутаковский, А. Е. Калядин, Е. И. Шек, К. Ф. Штельмах, Н. А. Соболев - 586-597
- Трансформации структуры ядра дислокаций в Si и их связь с фотолюминесценцией
Л. И. Федина, А. К. Гутаковский, В. И. Вдовин, Т. С. Шамирзаев - 598-605
РЕАЛЬНАЯ СТРУКТУРА КРИСТАЛЛОВ
- Аномально высокие значения модуля вектора Бюргерса винтовых дислокаций в нитевидных нанокристаллах нитрида галлия
Д. А. Кириленко, К. П. Котляр - 606-609
- Электронная микроскопия в изучении лунного реголита
А. В. Мохов, П. М. Карташов, Т. А. Горностаева, А. П. Рыбчук, О. А. Богатиков - 610-618
СТРУКТУРА НЕОРГАНИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ
- Применение спектроскопии энергетических потерь электронов для анализа микроструктуры реакторных материалов
К. Е. Приходько, М. М. Дементьева - 619-625
- Исследование морфологии и кристаллической структуры природных кремнеземов методами электронной микроскопии и электронографии
В. Я. Шкловер, П. Р. Казанский, Н. А. Артемов, И. Г. Марясев - 626-635
МЕТАМАТЕРИАЛЫ И ФОТОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ
- Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для создания жидкокристаллических метаповерхностей
В. В. Артемов, Д. Н. Хмеленин, А. В. Мамонова, М. В. Горкунов, А. А. Ежов - 636-644
ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
- Микроструктура эпитаксиальных слоев GaN, полученных на нанопрофилированных Si(001)-подложках
А. В. Мясоедов, Н. А. Берт, В. Н. Бессолов - 645-649
- Электронно-микроскопические исследования поверхностных образований в эпитаксиальном слое Ge3Sb2Te6, выращенном на кремниевой подложке
Ю. С. Зайцева, Н. И. Боргардт, А. С. Приходько, Е. Залло, Р. Каларко - 650-657
- Методика определения периодичности рельефа изломов разрушенных материалов
М. А. Артамонов - 658-662
- Особенности микроструктуры гидрогеля поли-n-винилпирролидон–La(NO3)3 ⋅ 6H2O
А. С. Орехов, Н. А. Архарова, В. В. Клечковская - 663-667
ПРИБОРЫ, АППАРАТУРА
- Применение метода EBSD для исследования механизмов разрушения сталей корпусов реакторов под действием эксплуатационных факторов
Д. А. Мальцев, Е. А. Кулешова, С. В. Федотова, М. А. Салтыков, Н. В. Степанов - 668-672
Информация о выпуске
- Всего статей21
- Страницы507-672
Кристаллография
Пн.-пт.: 10.00-19.00